北京韦林意威特工业内窥镜有限公司
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韦林工业内窥镜可以测量缺陷吗?测量方法有哪些?
发布时间:2020-12-11

答案是肯定的,韦林工业内窥镜可以测量缺陷,韦林品牌下的多个系列产品都具有测量功能,例如:XLVu、MViQ等。测量方法包括:双物镜测量、单物镜相位扫描三维立体测量、双物镜立体测量等。不同系列或配置的产品,对测量功能的支持是不一样的,您可以参考韦林网站上的产品介绍,做更具体的而了解。这里简单为您介绍单物镜相位扫描三维立体测量方法。


三维立体相位扫描测量功能在内窥镜检测领域是一个突破性的测量技术,此测量方法用一个镜头即可完成观察和测量,无需更换镜头和重新定位缺陷,节省工作时间,提高检测效率。设备采用先进的光栅扫描技术,即可识别并重现被测物体的外貌轮廓。通过进行三维立体数字建模,形成点云图、深度图,可更加清晰明了的对被测物体表面缺陷进行定性及定量的分析。以下是三维建模点云图的旋转深度图。


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测量模式有多种,包括:平面图像中任意两点之间的直线距离,任意两起始点之间的折线累计距离、点到直线之间的垂直距离,任意两点或两个平面之间的垂直深度和落差、多边形几何面积,以及深度剖面测量等。


复合测量功能:对可测量图像可进行不同测量模式在同一画面的复合测量,可以在同一画面上显示更多的测量信息。


重测功能:在本机上可对存储的可测量图像进行重复多次测量,并具有在计算机上独立运行的重测软件Inspection Manager,可对计算机上存储的或E-MAIL来的图像进行多次重复测量。


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随着人们安全意识的提升,随着检测技术的进步,内窥镜(www.everestbj.com)检测也已经从定性查找缺陷的基本阶段,进入到了定量分析缺陷严重程度的高标准阶段,因此在定性观察和定量测量方面都有优异表现的工业内窥镜将会日益受到青睐,美国韦林内窥镜是满足这种需求的高端产品,让您的检测更有把握!



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